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提高高分辨率显示器改进像素级测量和校正(Demura)的分数像素方法
发表于10/08/2020
Doug Kreysar,COO辐射视觉系统中的首席执行官,引领了该网络研讨会引入了辐射的分数像素测量方法,这确保了基于图像的显示测试系统的有效性,因为显示器的分辨率增加。与传统方法相比,网络研讨会包括对方法的描述和研究其精度。
发表于10/08/2020
Doug Kreysar,COO辐射视觉系统中的首席执行官,引领了该网络研讨会引入了辐射的分数像素测量方法,这确保了基于图像的显示测试系统的有效性,因为显示器的分辨率增加。与传统方法相比,网络研讨会包括对方法的描述和研究其精度。