技术论文
高性能SWIR成像相机
OSTED08/24/2021
高性能SWIR成像相机
猛禽摄影机
杰夫马丁
硅基检测器(如CCD或CMOS)广泛用于高性能成像应用中,检测从软X射线到近红外线波长典型地说,这些检测器量子效率快速下降,检测波长向国家清单报告区域进一步增长超过1100nm的硅透明性,因此无法直接检测这些波长的光子,然而许多其他材料在波长为1m或更长时对光子敏感度图1概述了VIS-IR波长范围内每个子区域的定义,以及一些常用检测材料及其典型检测范围下方强调的每一种材料都自有优缺点和挑战,并因此先于检测器
选择区,用户除波长响应外还必须考虑预期应用方方面面
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