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VCC-SXCXP1SW可以在400nm ~ 1700nm波长范围内探测和检测物体的不可见部分。

模型: VCC-SXCXP1SW(短波红外成像)

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VCC-SXCXP1SW图像可以在400nm到1700nm波长光谱范围内探测和检测物体的不可见部分。 [SWIR波长谱检查的优点]根据物体的透水率可以清楚地分辨出不同的μ g和含量。根据液体种类的不同,透光系数或光吸收系数不同,从而可以检测含量的过剩或不足,以及含量中是否存在异物。图像上能清晰地看到果实的叶脉和划痕,适用于农产品的新鲜度和形状检测。VCC-SXCXP1SW适用于各种检验应用,如晶圆检验、PCB检验、食品和医疗检验、农产品检验、标识和分类、制造过程检验等。
  • I / F: CXP3×1巷
  • 传感器:SenSWIR IMX990
  • 传感器尺寸:1/2型
  • 单位细胞大小:5×5µm
  • 有效像素数:1296×1032
  • 帧率:134.73 fps(8位)?为125.2 fps(10位)? 71.52 fps(12位)
  • 镜头安装:C安装
  • 尺寸:65×65×65毫米
  • 特点:全局快门,连接器:BNC,外部触发,ROI, H&V翻转,照明触发控制,检测波长光谱:400~1700nm,性价比高
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