辐射网络研讨会为像素级显示测量系统提供最佳成像传感器特性

雷德蒙德，洗。 -辐射视觉系统，用于照明和显示的领先的测试和测量解决方案提供商，宣布它将举办网络研讨会，以讨论高分辨率显示器的趋势和测量挑战，从OLED和LED显示器显示到最新的微循环面板。网络研讨会将呈现测量发光显示器以检测每个像素的常见变化的重要性，以及测量系统的成像传感器对从像素到像素捕获最准确和可重复数据的效果。网络研讨会，标题为“CCD或CMOS？成像传感器属性如何影响显示器的像素级别测量，“将于2019年9月10日星期二播出直播，从上午10:00到10:30太平洋白昼（PDT）（下午1:00至1:30。东部日光时间（EDT））。广播包括由Shannon Roberts的Rackiant Product Manager的技术演示，然后是实时受众问题和答案会话。

成像系统是用于显示测量和资格的高效视觉检查解决方案。图像使得显示显示的上下文分析通过比较完整显示区域的亮度，颜色和其他特征的视觉偏差来识别缺陷。然而，将光到数字输入来创建图像的过程是电子信号中的一对一不一致，因为光的值被翻译成电子数据。成像传感器类型（CCD和CMOS）以不同的方式完成此转换过程，每个转换过程都具有不同的好处和限制。根据传感器的性能阻碍或提高成像系统性能，不可避免的不一致性可能或多或少明显。了解成像系统规范和传感器属性的影响对于选择优化测量数据的准确性和可重复性的系统至关重要。当为当今的高分辨率发射显示器（例如OLED和MICROLED）评估单个显示像素的极其有限的数据采样区域，这变得更加重要。

对于超过25年的制造成像系统，用于显示计量，Radiant的工程努力继续扩大市场趋势，以解决较小的显示像素，越来越动态的集成以及确保在更精确的发光元件内的数据准确性的需要。Radiant的Prometric®成像光度计和色度计旨在实现高分辨率，同时保持可重复测量数据所需的信号对噪声优势，以千万显示数百万显示像素。辐射直接使用图像传感器供应商来评估每个系统的成像性能，只接受达到分辨率的科学级组件，而不会牺牲图像质量和测量能力。在单个测量图像中，Prometric成像系统可以在显示屏中的每个像素处捕获高度精确的亮度数据，在实验室和生产应用中，可以在每个像素中捕获全面和高效的视觉检查（每次测量值为1.5秒）。

在Radiant的即将到来的网络研讨会上，Shannon Roberts产品经理将展示成像系统规范对显示计量中测量性能的影响。呈现将包括比较传感器类型（CCD与CMOS），像素大小和信噪比（SNR）的测量示例，以及这些属性对像素级显示测量的数据的准确性和可重复性的影响。

有关本网络研讨会的信息，并于9月10日注册直播，请访问我们的网站。

关于辐射视觉系统
辐射视觉系统与世界级品牌和制造商配合，提供创造性的视觉检查解决方案，提高质量，降低成本，提高客户满意度。Radiant的技术创新在光度成像和全球安装基地的遗产回到了25多年以上，并从消费电子产品到汽车制造的应用。辐射视觉系统产品系列包括用于质量控制的TrueTest™自动视觉检测软件，Prometric®成像比色仪，光度计和光源测量系统。辐射总部位于美国华盛顿州雷德蒙德，在加利福尼亚州，密歇根州，中国和韩国的战略办公室。自2015年8月以来，Radiant已成为Konica Minolta感官业务部门的一部分。