辐射提出了一个光学设计概念，革命性的发展XR显示测试系统在SPIE AR | VR | MR

辐射视觉系统，光和显示测量的光度成像解决方案的领先供应商，宣布它将在SPIE AR | VR | MR大会将于2022年1月23日至25日在加利福尼亚州旧金山的莫斯科尼西部举行。Radiant的光学开发经理Eric Eisenberg和员工光学软件工程师Javier Ruiz将介绍该公司正在申请的专利。新型模块化光学系统，简化AR、VR显示测量解决方案的开发该论文将于1月23日至25日(周日至周二)每天中午12:00至12:50在会议的每日海报会议上作为会议技术会谈的一部分进行展示。

为AR、VR和MR (XR)在设备中，显示质量由用户在耳机设计参数中观察到的显示感知决定。测量系统用于评估XR显示质量，模拟用户的观看条件，通过应用光学，将成像透镜的入口瞳孔(孔径)定位在耳机内的眼睛位置。虽然这种观察位置在XR显示器中很常见，但没有标准的指导XR设备设计。显示技术、投影方法和耳机的外形因素都在不断发展。必须不断开发新的显示测量设备，以解决新设备的独特观看条件-不同的角度视场(FOV)，分辨率，焦点范围和硬件设计。为了解决每一组变量，许多XR设备需要具有昂贵的定制光学的测量系统。没有一刀切的解决方案，一旦设计出来，测量系统就不容易针对不同的需求进行修改。XR创新的速度需要帮助制造商尽可能快速和轻松地部署特定于设备的显示测量的设备。

作为SPIE AR | VR | MR的一部分技术谈判， Radiant的论文介绍了一种正在申请专利的新型光学设计，极大地简化了构建近眼显示(NED)计量成像系统的过程。使用市售的模块化组件，可以生产各种光学配置，如果需要，可以重新配置，以匹配大多数XR耳机的独特规格，只需最短的开发时间。电子对焦控制和折叠(“潜望镜”)几何形状等功能可以很容易地结合在一起，以适应不同的对焦范围和耳机形状因素。辐射公司的技术论文和海报演示将介绍这一光学设计概念，并通过测试数据和测量实例演示NED测量模块化系统的性能。

来自Radiant Vision Systems工程团队的论文作者Eric Eisenberg(光学开发经理)和Javier Ruiz(员工光学软件工程师II)代表Radiant Vision Systems展示了海报会议。Eisenberg拥有丰富的实践经验，将成像技术应用于测试和测量，并对成功实施所需的技术因素有深刻的理解。在加入Radiant之前，Eisenberg曾在Lockheed Martin和Terabeam担任光学工程职位。鲁伊斯拥有20多年的光学计量学和光学设计专业知识，在Radiant的开发项目中发挥了重要作用。他与领先的制造商合作，根据制造商的规格设计光学系统，对显示器、AR/VR设备和光源的独特视觉属性进行成像，以进行测量和分析。在加入Radiant之前，Ruiz曾在TRIOPTICS USA, Digital Optics, Rockwell Collins和JVC担任光学工程职位。两位演讲者都发明了多项专利。

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关于辐射视觉系统
Radiant Vision Systems与世界一流的品牌和制造商合作，提供创新的视觉检测解决方案，提高质量，降低成本，提高客户满意度。Radiant在光度成像和全球安装基础方面的技术创新可以追溯到30多年前，可解决从消费电子产品到汽车制造的应用。Radiant Vision Systems的产品线包括用于质量控制的TrueTest™自动视觉检测软件和ProMetric^®成像色度计、光度计和光源测量系统。辐射源总部位于美国华盛顿州雷德蒙德，在加利福尼亚州、密歇根州、中国、韩国和越南设有战略办事处。Radiant自2015年8月以来一直是柯尼卡美能达传感业务部门的一部分。更多信息，请访问www.RadiantVisionSystems.com．