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Pleora和perclass合作伙伴简化了高光谱成像进行检查应用的部署
发表于01/29/2020.
Pleora Technologies和perClass BV今天宣布了一项技术合作,简化了用于检测应用的机器学习高光谱成像的部署。Pleora将在SPIE Photonics West (Pleora展位#4263,perClass展位#5248)和ATX West (Pleora展位#4255,Saber1)展示其新的AI Gateway和perClass开发的高光谱成像插件。
传统摄像机捕捉的图像是宽的红色、绿色和蓝色波长,以匹配人类的视觉,而高光谱成像提供更窄的波长,包括检测对象上每个像素的紫外线或近红外信息。由于能够捕获整个电磁光谱,高光谱成像正越来越多地应用于多个行业,以分析、检测和分类材料。
例如,食品检验正在采用高光谱成像技术来检测外来物质,确保产品符合质量标准,同时减少昂贵的目视检查。在医药市场上,高光谱成像可以在视觉上检测到相同药片中有效成分的细微变化,从而筛选出不合格产品。
“高光谱成像在广泛的市场范围内提供更深层次的洞察力,但最终用户和集成商一直与部署斗争,”Pleora首席技术官Jonathan Hou说。“通过包括来自Perclass的强大自动机器学习能力作为我们的AI Gateway中的插件解决方案,Pleora正在提供Vision Industry最直接的解决方案来培训和部署利用高光谱成像进行检测应用的AI算法。”
perClass BV的创始人兼总经理Pavel Paclik博士说:“与Pleora合作,我们正在帮助打破光谱成像的部署障碍。“perClass解释软件和运行时技术与Pleora独特的人工智能部署方法相结合,用户和集成商更容易在更广泛的工业应用中使用高光谱成像,包括制药、食品生产、回收和制造业。”
使用Pleora AI Gateway和Perclass AI插件,最终用户和集成商可以部署机器学习高光谱功能,而无需任何额外的编程知识。图像和数据在主机PC上上传到PerclassMira®“无代码”培训软件,它会自动生成在生产环境中部署在Pleora AI网关上的AI型号。
Pleora的AI Gateway与任何符合标准的高光谱传感器无缝工作,这意味着最终用户可以避免供应商锁定,同时维护流程和分析软件。许多软件处理解决方案需要自定义解决方法来支持高光谱通过Gige Vision,因为它们无法解释多频带信息。相比之下,AI网关通过自动处理从高光谱成像源自动处理图像获取并将处理后的数据发送到检查和分析平台的图像获取来桥接应用和现有机器视觉软件之间的差距。
Pleora的AI Gateway提供了额外的AI插件技能,用于分类、排序和检测,具有NVIDIA GPU的处理灵活性,可以训练和部署在TensorFlow和OpenCV等流行框架中开发的开源或自定义算法。主要客户现在正在评估AI Gateway在检查应用中的应用,以帮助减少昂贵的检查错误、假阳性和二次筛查。